產(chǎn)品名稱：HORIBA堀場(chǎng)微區(qū)X射線熒光分析儀超大樣品倉(cāng)型

激發(fā)系統(tǒng)

XGT-9000SL可以配置15μm和100μm超高強(qiáng)度X射線探頭在顯微水平上進(jìn)行X射線熒光分析，即使針對(duì)大樣品也是如此。X射線發(fā)生器可以提供高達(dá)50 kV和1000μA的X射線輻射輸出。因此，高性能激發(fā)系統(tǒng)為大樣品分析提供了**性能和靈活性。

光學(xué)圖像

拍攝清晰的圖像對(duì)于微區(qū) XRF至關(guān)重要。XGT-9000SL提供了兩種類型的相機(jī)，用以捕獲樣品的整體圖像和微觀的細(xì)節(jié)圖像。多種照明模式有助于獲得清晰的圖像，即使是有反射和透明的樣品。

樣品倉(cāng)

XGT-9000SL的大樣品倉(cāng)空間（1030 mm x 950 mm x 500 mm）可以容納各種各樣的樣品，從微小尺寸的碎片到電路板和繪畫等大小的樣品。XGT-9000SL配備符合JAIMAS0101-2001/IEC1010-1標(biāo)準(zhǔn)的X射線防護(hù)裝置，可保證操著者免受X射線照射。XGT-9000SL可以保證**的情況下對(duì)樣品進(jìn)行非破壞性分析。

檢測(cè)器

XGT-9000SL配備了透射X射線檢測(cè)器和熒光X射線檢測(cè)器。透射X射線檢測(cè)器使用戶能夠檢測(cè)樣品的內(nèi)部缺陷和異物。搭載輕元素檢測(cè)器和He吹掃模塊，熒光X射線檢測(cè)器可以檢測(cè)從镅到碳的所有元素。

軟件套件

當(dāng)然，XGT-9000SL軟件涵蓋了所有基本檢測(cè)功能，如單點(diǎn)分析、多點(diǎn)分析、線分析和Mapping成像等。除了標(biāo)準(zhǔn)軟件功能外，還可以向軟件套件中添加**模塊，以提供更**的用戶體驗(yàn)。這些模塊包括：

• 用于有標(biāo)樣或無(wú)標(biāo)樣的膜厚檢測(cè)的FPM多層膜檢測(cè)模塊
• 用于RoHS有害元素篩查的RoHS檢測(cè)模塊
• 用于無(wú)人值守的多任務(wù)隊(duì)列檢測(cè)模塊
• 用于顆粒異物成分、分級(jí)分析和原位分析的顆粒搜尋模塊

• 用于將檢測(cè)數(shù)據(jù)導(dǎo)入LabSpec 6進(jìn)行多元分析的LabSpec鏈接模塊。